Vabimo vas na CT brezplačno delavnico

Datum objave: 29. avgust 2024

Prejšnja Naslednja

Ali želite izvedeti več o prednostih tehnologije CT za vašo industrijo? Pridružite se nam na brezplačni delavnici, ki bo 10. 10. 2024 v merilnem laboratoriju podjetja TOPOMATIKA v Sveti Nedelji. To je edinstvena priložnost za brezplačno usposabljanje in podrobno seznanitev z možnostmi sistema ZEISS Metrotom. Preizkusite napravo, povejte nam več o svojih izzivih in izvedite, kako vam lahko pomaga tehnologija CT.

Kaj lahko pričakujete:

Predstavitev naprave ZEISS METROTOM: pregled celotnega merilnega postopka.

Primeri iz prakse: kako CT skeniranje pomaga pri optimizaciji proizvodnje.

Predavanja strokovnjakov: izkušnje in nasveti vodilnih strokovnjakov iz industrije.

Predstavitev novosti programskega paketa za 3D-analizo podatkov CT ZEISS INSPECT X-Ray.

Industrijski CT se uporablja v različnih panogah, kot so avtomobilska, letalska, medicinska in elektronika, za preverjanje kakovosti izdelkov, analizo materialov, razvoj izdelkov in reševanje težav. To orodje je ključno za izboljšanje proizvodnih procesov, zagotavljanje skladnosti z industrijskimi standardi ter za zmanjšanje tveganja napak v končnih izdelkih.

Število mest je omejeno, zato se prijavite že danes!

Link na prijavo: TOPOMATIKA CT delavnica 10.10.2024.

Kje in kdaj?

Lokacija: Merilni laboratorij TOPOMATIKA, Industrijska ulica 3, Sveta Nedelja, Hrvaška.

Datum: 10. 10. 2024

Ne zamudite priložnosti za seznanitev z inovativno rešitvijo za celovito kontrolo kakovosti v industrijski proizvodnji. Povežite se z nami in s strokovnjaki iz različnih industrij ter odkrijte, kako lahko s tehnologijo CT izboljšate svoje poslovanje

Za vse ostale informacije o optičnim 3D skenerjima in digitalnih demonstracijah se obrnite na TOPOMATIKA spletne strani: https://topomatika.si/

Vsebino prispeval bronasti partner

TOPOMATIKA d.o.o.

Industrijska ulica 3, Novaki

10431 Sveta Nedelja

E-pošta: info@topomatika.hr

Splet: http://www.topomatika.hr/

Število ogledov: 445

Deli objavo na: